合肥工业大学计算机与信息学院导师：陈田

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合肥工业大学计算机与信息学院导师：陈田正文

　　
　　姓名：陈田
　　性别：男
　　出生年月：
　　职称：副教授
　　学院：计算机与信息学院
　　研究方向：
　　低功耗嵌入式系统、VLSI设计与测试、嵌入式智能系统等　
　　
　　简历
　　合肥工业大学计算机与信息学院副教授、博士、硕士生导师， 2002年合肥工业大学硕士毕业留校任教，工作期间获计算机应用专业博士学位。目前在合肥工业大学计算机与信息学院计算机系统结构研究所、情感计算与先进智能机器安徽省重点实验室从事科研和教学工作。主要研究方向为低功耗嵌入式系统、VLSI设计与测试、嵌入式智能系统等。
　　近年来，参与完成了十多项国家级和省部级纵向科研项目，包括国家自然科学基金重点项目1项、国家自然科学基金重大研究计划项目1项、国家自然科学基金项目2项、973项目1项，863计划项目2项、教育部博士点基金项目2项、安徽省自然科学基金项目1项、安徽省海外人才基金项目1项，安徽省高等学校省级自然科学研究项目1项。主持承担了安徽省高校青年教师科研资助计划项目、中国科学院物质所ITER项目子课题、合肥工业大学科学研究发展基金项目、合肥工业大学博士专项科研资助基金项目等。发表论文20余篇，申请发明专利3项，其中1项已授权1项，2项已公开。参加的研究项目“系统芯片SoC自测试方法研究”在2009年获安徽省科学技术研究成果三等奖。目前是中国计算机学会会员，第六届中国测试学术会议(CTC’2010) 组织委员会主席，NLP-KE’2012秘书长。
　　
　　研究方向
　　低功耗嵌入式系统、VLSI设计与测试、嵌入式智能系统等

　　教学工作
　　计算机组成原理、计算机系统结构　　

　　获奖情况
　　安徽省科学技术研究成果三等奖；
　　“博创杯”全国大学生嵌入式设计大赛全国一等奖指导教师；
　　本科生毕业设计校级优秀论文指导教师；
　　计算机与信息学院“2010年度学生评教个人优秀奖”　

　　主要论著
　　1． 陈田,梁华国, 王伟,易茂祥,黄正峰． 基于优化编码的LFSR重播种测试压缩方案[J] ．计算机研究与发展． 2012，49（2）:443-452．（EI）
　　2． 李鑫，梁华国，陈田，王伟，易茂祥． 并行折叠计数器的BIST方案[J]． 电子学报，2012，已录用．
　　3． 王伟，张欢，方芳，陈田，刘军，李欣，邹毅文． 2TF:一种协同考虑过硅通孔和热量的三维芯片布图规划算法[J]．电子学报，2012，已录用．
　　4． 陈田，梁华国，易茂祥，王伟，黄正峰，张敏生． 基于随机访问扫描的低功耗确定性测试方案[J]． 中国科学技术大学学报，2011,41（8）：722-730．
　　5． 李鑫，梁华国，陈田，王伟，易茂祥． 基于折叠计数器的低功耗BIST方案[J]． 仪器仪表学报， 2011, 32 (12):1-5．
　　6． 王丽娟, 梁华国, 陈田, 王伟, 李扬． 基于位差码的测试数据压缩方案[J]． 仪器仪表学报（增）, 2011,32(06): 61-65．
　　7． 邹毅文, 梁华国, 王伟, 陈田, 张欢． 硅通孔数目敏感的三维电路划分[J]． 仪器仪表学报（增）, 2011,32(06): 15-19．（EI）
　　8． 陈田，梁华国，张敏生，王伟，易茂祥． 应用段固定折叠计数器的低功耗测试方案[J]． 应用科学学报，2010，28（4）：399-405． (EI)
　　9． 陈田，梁华国, 王伟,易茂祥,黄正峰． 基于LFSR重播种的低功耗测试压缩方案． 第6届中国测试学术会议, 2010: 18-25．
　　10． 杨年宏，王伟，岳学民，陈田． 一种热量敏感的3D SoC并行测试方法研究． 第6届中国测试学术会议, 2010:307-309．
　　11． 顾婉玉，梁华国，徐三子，陈田，王伟． 一种基于响应中无关位填充的测试压缩方法． 第6届中国测试学术会议, 2010:83-86．
　　12． 欧阳一鸣，刘娟，梁华国， 陈田． 一种基于选择触发的低功耗扫描链结构 [J]． 计算机工程与应用，2010，46(1): 57-60．
　　13． 方芳，王伟，王杰，陈田，杨年宏． 低功耗测试研究进展 [J] ． 合肥工业大学学报（自然科学版）, 2009, 32(6): 699-773．
　　14． Tian Chen, Hua-guo Liang, Min-sheng Zhang, Wei Wang, Mao-xiang Yi． A Low Power Test Scheme Based on Segment Fixing Folding Counter． Proc． 10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT’09), Hong Kong, China, November 2009:168-173．
　　15． 张敏生，梁华国，陈田． NoC 的低功耗快速测试． 哈尔滨工业大学学报． 2009，7, 41(1): 379-382．
　　16． 黄正峰,梁华国,陈田,詹文法,孙科． 一种容软错误的BIST结构[J]． 计算机辅助设计与图形学学报, 2009, 21(1): 33-37． (EI)
　　17． 易茂祥,梁华国,陈田． 基于最佳交换递减的芯核测试链平衡划分[J]． 电子测量与仪器学报, 2009,23(4): 97-102．
　　18． Tian Chen, Huaguo Liang, Minsheng Zhang, Wei Wang． A Scheme of Test Pattern Generation Based on Reseeding of Segment-Fixing Counter． Proc． IEEE International Conference for Young Computer Scientists, 2008: 2272-　　2277．(EI，ISTP)
　　19． 梁华国; 祝沈财; 陈田; 张念． 基于RAS结构优化测试时间和数据量的测试方案[J] ． 电子学报，2008, 36(12): 2418-2422． (EI)
　　20． 黄正峰，梁华国，陈田，詹文法，孙科．一种容软错误的高可靠BIST结构[C], 第五届中国测试学术会议论文集，2008：358-361．
　　21． 黄正峰，梁华国，欧阳一鸣，陈田．基于门控时钟的回卷自恢复FSM研究 [J]．计算机辅助设计与图形学新进展（中国计算机学会文集），2006：506-511．
　　授权及已公开的国家发明专利:
　　1． 一种幂次数切分的LFSR重播种VLSI测试数据压缩方法，200910116316．6（已授权）
　　2． 一种基于颜色立方先验的单一图像能见度复原方法，201110089210．9（已公开）
　　3． 基于并行折叠计数器的重播种测试方案，201010570795．1（已公开）

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