发布时间:2021-11-20 编辑:考研派小莉 推荐访问:
重庆邮电大学导师:袁军

重庆邮电大学导师:袁军的内容如下,更多考研资讯请关注我们考研派网站的更新!敬请收藏本站。或下载我们的考研派APP和考研派微信公众号(里面有非常多的免费考研资源可以领取哦)[重庆邮电大学研究生导师:李欣蔚] [重庆邮电大学研究生导师:王进] [重庆邮电大学研究生导师:王国胤] [重庆邮电大学研究生导师:纪良浩] [重庆邮电大学研究生导师:米建勋] [重庆邮电大学研究生导师:蒲旭敏]

重庆邮电大学学姐微信
为你答疑,送资源

95%的同学还阅读了: [2022重庆邮电大学研究生招生目录] [重庆邮电大学研究生分数线[2013-2021]] [重庆邮电大学王牌专业排名] [重庆邮电大学考研难吗] [重庆邮电大学研究生院] [重庆邮电大学考研群] [重庆邮电大学研究生学费] 重庆邮电大学保研夏令营 重庆邮电大学考研调剂2022最新信息 [重庆邮电大学研究生辅导] [考研国家线[2006-2021]] [2022年考研时间:报名日期和考试时间]

重庆邮电大学导师:袁军正文

[导师姓名]
袁军

[所属院校]
重庆邮电大学

[基本信息]
导师姓名:袁军
性别:男
人气指数:2322
所属院校:重庆邮电大学
所属院系:
职称:副教授
导师类型:
招生专业:
研究领域:模拟混合电路的可测试性设计(DFT,Design-for-Testability)和内建自...

[通讯方式]
电子邮件:yuanjun@cqupt.edu.cn or dake1025@126.com

[个人简述]


[科研工作]
科研与学术工作经历:
1. 2014/06-至今,重庆邮电大学,光电工程学院,副教授;2. 2012/12-2014/05,重庆邮电大学,光电工程学院,讲师;
主持或参加科研项目(课题)及人才计划项目情况:
1. 重庆市基础与前沿研究计划项目,cstc2016jcyjA0272,基于匹配特性的ADC自测试研究,2016/07-2019/06,主持;2. 重庆市教委项目,KJ1500424,基于匹配特性的DAC内建自测试研究,2015/07-2017/06,主持;3. 重庆邮电大学博士启动基金,A2013-05,混合电路中DAC的BIST研究,2013/04-2016/03,主持;4. 重庆邮电大学青年科学研究项目,A2014-40,基于匹配特性的DAC内建自测试研究,2014/01-2015/12,主持;5. 重庆邮电大学科研训练计划,A2014-70,电路测试设计,2014/11-2015/10,主持;6. 重庆市LED光电器件企业工程技术研究中心能力提升项目,cstc2014pt-nlts0004,科技平台与基地建设(工程技术研究中心(企业)),2014/08-2017/07,参与,排名7。
代表性研究成果和学术奖励情况:
1. Jun Yuan and Masayoshi Tachibana, “A common-mode BIST technique for fully-differential sample-and-hold circuits,” IEICE Electronics Express, Vol. 9, No. 13, pp.1128-1134, Jun. 2012. (SCI)2. Jun Yuan and Masayoshi Tachibana, “A BIST Scheme based on Resistance Match for Current-Mode R-2R Ladder Digital-to-Analog Converter,” 3rd International Conference on Computer Research and Development (ICCRD 2011), Shanghai, China, Mar.2011. (EI)3. Jun Yuan and Masayoshi Tachibana, “A resistance matching based self-testable current-mode R-2R digital-to-analog converter”, IEICE Electronics Express,Vol.10, No. 23 pp.1-7, Dec. 2013. (SCI)4. Jun Yuan and Masayoshi Tachibana,“A BIST Scheme for Operational Amplifier by Checking the Stable Output of Transient Response”,20th European Conference on Circuit Theory and Design, ECCTD 2011, Linkoping, Sweden, Aug. 29-31, 2011. (EI)5. Jun Yuan and Masayoshi Tachibana, “A Two-Step BIST Scheme for Operational Amplifier,” Proceedings of Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information technologies (SASIMI-2012), Beppu, Japan, Mar.2012.6. Jun Yuan and Wei Wang, “A TDC based BIST Scheme for Operational Amplifier,” Applied Mechanics and Materials, Vols. 644-650, pp.3583-3587, Sep. 2014.(EI)

[教育背景]
1. 2009/10–2012/09,日本高知工科大学,基础工学(集成电路测试方向),博士,导师:Tachibana Masayoshi (SSP + Flying Fish 奖学金);

2. 2006/09–2009/07,西南交通大学,检测技术及其自动化装置,硕士;

3. 2002/09–2006/07,西南交通大学,电子信息工程,学士;

添加重庆邮电大学学姐微信,或微信搜索公众号“考研派之家”,关注【考研派之家】微信公众号,在考研派之家微信号输入【重庆邮电大学考研分数线、重庆邮电大学报录比、重庆邮电大学考研群、重庆邮电大学学姐微信、重庆邮电大学考研真题、重庆邮电大学专业目录、重庆邮电大学排名、重庆邮电大学保研、重庆邮电大学公众号、重庆邮电大学研究生招生)】即可在手机上查看相对应重庆邮电大学考研信息或资源

重庆邮电大学考研公众号 考研派之家公众号

本文来源:http://m.okaoyan.com/zhongqingyoudiandaxue/yanjiushengdaoshi_527224.html