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合肥工业大学电子科学与应用物理学院导师:尹勇生正文
姓名:尹勇生
性别:男
出生年月:1973
职称:副教授
学院:电子科学与应用物理学院
研究方向:
超大规模集成电路设计、混合信号系统设计、可重构计算技术
简历
2011/1-2013/12,国家自然科学基金面上项目:A/D转换器伪随机噪声注入数字校准技术之快速收敛性研究(61076026),主持。
2009/1- ,新品研制项目:高速D/A转换器,主持。
2006/1- ,部委预研项目:高速数模转换器技术研究,主持。
2007/1-2007/12,部委预研基金:传感器测量电路中的低功耗设计技术研究,主持。
2004/7-2006/2,国家自然科学基金项目:动态可重构SoC中数据通讯问题的研究,参加。负责建立系统计算模型、结构模型和执行模型,搭建系统环境(含1个32位的类MIPS核)。
2004/3-2004/6,项目:通用USB接口芯片的开发,主持。负责系统级设计和验证,通过FPGA验证。
2003/5-2003/9,合肥市科技计划项目:IP软核PCI产业化应用——硬盘数据安全芯片,参加。负责全部验证、测试,以及部分设计、综合工作,已流片成功。相关项目:AD总线多次复用型PCI接口芯片,已作为安徽省科学技术研究成果,获得安徽省科学技术进步三等奖。
2002/5-2002/10,部委项目:算术协处理器的设计和生产,参加。负责逻辑模拟和测试工作,已流片成功。
2001/10-2002/3,项目:容栅式数显量仪ASIC芯片的改版开发,主持。负责版图设计和验证以及逻辑验证工作,已流片成功。
研究方向
超大规模集成电路设计、混合信号系统设计、可重构计算技术
教学工作
研究生专业课:超大规模集成电路综合
获奖情况
论文获奖1项(2007全国高性能计算学术年会最佳论文提名奖);
省级科学技术奖三等奖1项(第四排序);
合肥市科学技术二等奖1项(第四排序)。
主要论著
1.Yong-Sheng YIN, Li LI, Ming-Lun GAO, et.al.On the Implementation of Virtual Array Using Configuration Plane.Advanced Parallel Processing Technologies, 7th International Symposium (APPT2007), 199-208.
2.Yong-Sheng YIN, Hong-Hui DENG, Cong LIU, et.al.A 14-bit 130-MSPS Current-steering CMOS DAC with 2×FIR Interpolation Filter.2007 7th International Conference on ASIC (ASICON2007), 703-706.
3.尹勇生,胡永华,高明伦.基于过采样技术CDR析及应用.应用科学学报,2006,24(3):240-244.
4.尹勇生,刘聪,高明伦.A New Approach to PLA for Single Clock CMOS.Journal of electronics(China), 2006, 23(1): 157-160.
5.许居衍,尹勇生半导体特征循环与可重构芯片嵌入式系统与应用,2005,(2-3):2-4,(4):2-5.
6.尹勇生,高明伦,杜高明等.MPRS:一种面向计算密集型应用的多流水可重构计算系统.2007年全国高性能计算学术年会, 172-181.
7.尹勇生,高明伦,邓红辉等.多流水可重构阵列的结构设计.高性能计算技术, (12):20-25.
8.尹勇生,陈志明,邓红辉等.基于Verilog-AMS的VCO噪声建模.现代电子技术,30(24):166-168.
9.尹勇生,高明伦,邓红辉等.一种新的产生可控长度测试码的BIST结构.2007中国计算机大会.
10.尹勇生,李丽,高明伦.基于多流水线的可重构系统.微电子学与计算机,2005,22(10):88-92.
11.尹勇生,胡永华,周干民.PCI扩展ROM机制的实现方法.计算机工程与应用,2005,41(10):100-103.
12.尹勇生,胡永华,周干民.PCI总线接口的验证平台及测试图形生成.电子测量与仪器学报(增刊),2004,18:300-305.
13.刘涛,尹勇生,王晓娟一种带备用电源切换的线性稳压器设计电子测量与仪器学报,2007,21(4):93-96
14.Liang Shangquan, Gao Minglun, Yin Yongsheng, et.al.A 14-bit 320MSPS Segmented Current-steering D/A Converter for High-speed Application4th.IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Application (DELTA2008), 111-114.
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